...Die Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS) ermöglichst die Messung der atomaren und molekulare Zusammensetzung der obersten 1-3 Monolagen einer Probe. Insbesondere erlaubt sie eine eindeutige Ide
Kurzprofil der ToF-SIMS:
Nachweis aller Elemente (inkl. Isotope), molekulare Informationen
Nachweisgrenze im Bereich von Sub-Monolagen (ppm)
Informationstiefe ca. 1-3 Monolagen
Laterale...