Nexview™ NX2 - Optisches 3D-Oberflächenprofilometer

Das NexView optische 3D-Oberflächenprofilometer ermöglicht die Messung unterschiedlichster Oberflächen – von extrem glatten bis hin zu sehr rauen – mit einer Genauigkeit im Sub-Nano-meterbereich, und zwar unabhängig vom Sichtfeld bzw. Objektiv. Nexview™ Logo Das nach ISO 25178-604 Teil D arbeitende Messgerät erlaubt die Messung von Ebenheit, Rauheit, großen Stufen und Segmenten, dünnen Schichten und großen Steigungen mit Merkmalshöhen von unter 1 nm bis zu 20000 µm. • Kompromisslos – ein Profilometer, das sich für alle Oberflächentypen von rau bis extrem glatt eignet, einschließlich dünner Schichten, hoher Steigungen oder großer Stufen. • Prüfmittelfähig – hervorragende Genauigkeit und Wiederholbarkeit auch für anspruchsvollste Anwendungen in der Fertigung. • Spezielle SureScan™ oder SmartPSI™ Technologie – stabiler Betrieb in praktisch allen Umgebungen auch ohne Schwingungsisolation oder im Sub-Ångström Bereich. • Oberflächenparameter nach ISO 25178. • Komplett neue graphische Analyse- und Bediensoftware – verbesserte Funktionalität bei geringerem Schulungsaufwand. • Optimierte Konstruktion – keine manuellen Bedienelemente; vollständige Automatisierung möglich.